- •Введение Физика как наука. Содержание и структура физики
- •I Механика
- •1.1 Кинематика материальной точки
- •1.1.1 Понятие материальной точки. Система отсчета. Траектория, путь, перемещение Единицы измерения
- •1.1.2 Скорость и ускорение произвольно движущейся точки
- •1.1.3 Кинематика прямолинейного движения
- •1.1.4 Движение точки по окружности. Связь между линейными и угловыми кинематическими параметрами
- •1.1.5 Колебательное движение. Виды гармонических колебаний
- •1.1.6 Сложение гармонических колебаний
- •1.2 Динамика материальной точки
- •1.2.1 Законы Ньютона. Масса, сила. Закон сохранения импульса, реактивное движение
- •1.2.2 Силы в механике
- •1.2.3 Работа сил в механике, энергия. Закон сохранения энергии в механике
- •1.3 Динамика вращательного движения твердых тел
- •1.3.1 Момент силы, момент импульса. Закон сохранения момента импульса
- •1.3.2 Кинетическая энергия вращательного движения. Момент инерции
- •II Раздел молекулярная физика и термодинамика
- •2.1 Основные положения молекулярно-кинетической теории газов
- •2.1.1 Агрегатные состояния вещества и их признаки. Методы описания физических свойств вещества
- •2.1.2 Идеальный газ. Давление и температура газа. Шкала температур
- •2.1.3 Законы идеального газа
- •2.2 Распределение Максвелла и Больцмана
- •2.2.1 Скорости газовых молекул
- •2.3. Первое начало термодинамики
- •2.3.1 Работа и энергия в тепловых процессах. Первое начало термодинамики
- •2.3.2 Теплоемкость газа. Применение первого начала термодинамики к изопроцессам
- •2.4. Второе начало термодинамики
- •2.4.1. Работа тепловых машин. Цикл Карно
- •2.4.2 Второе начало термодинамики. Энтропия
- •2.5 Реальные газы
- •2.5.1 Уравнение Ван-дер-Ваальса. Изотермы реального газа
- •2.5.2 Внутренняя энергия реального газа. Эффект Джоуля—Томсона
- •III Электричество и магнетизм
- •3.1 Электростатика
- •3.1.1 Электрические заряды. Закон Кулона
- •3.1.2 Напряженность электрического поля. Поток линий вектора напряженности
- •3.1.3 Теорема Остроградского — Гаусса и его применение для расчета полей
- •3.1.4 Потенциал электростатического поля. Работа и энергия заряда в электрическом поле
- •3.2 Электрическое поле в диэлектриках
- •3.2.1 Электроемкость проводников, конденсаторы
- •3.2.2 Диэлектрики. Свободные и связанные заряды, поляризация
- •3.2.3 Вектор электростатической индукции. Сегнетоэлектрики
- •3.3 Энергия электростатического поля
- •3.3.1 Электрический ток. Законы Ома для постоянного тока
- •3.3.2 Разветвленные цепи. Правила Кирхгофа. Работа и мощность постоянного тока
- •3.4 Магнитное поле
- •3.4.1 Магнитное поле. Закон Ампера. Взаимодействие параллельных токов
- •3.4.2 Циркуляция вектора индукции магнитного поля. Закон полного тока.
- •3.4.3 Закон Био—Савара—Лапласа. Магнитное поле прямого тока
- •3.4.4 Сила Лоренца Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
- •3.4.5 Определение удельного заряда электрона. Ускорители заряженных частиц
- •3.5 Магнитные свойства вещества
- •3.5.1 Магнетики. Магнитные свойства веществ
- •3.5.2 Постоянные магниты
- •3.6 Электромагнитная индукция
- •3.6.1 Явления электромагнитной индукции. Закон Фарадея. Токи Фуко
- •3.6.2 Ток смещения. Вихревое электрическое поле Уравнения Максвелла
- •3.6.3 Энергия магнитного поля токов
- •IV Оптика и основы ядерной физики
- •4.1. Фотометрия
- •4.1.1 Основные фотометрические понятия. Единицы измерений световых величин
- •4.1.2 Функция видности. Связь между светотехническими и энергетическими величинами
- •4.1.3 Методы измерения световых величин
- •4.2 Интерференция света
- •4.2.1 Способы наблюдения интерференции света
- •4.2.2 Интерференция света в тонких пленках
- •4.2.3 Интерференционные приборы, геометрические измерения
- •4.3 Дифракция света
- •4.3.1 Принцип Гюйгенса—Френеля. Метод зон Френеля. Зонная пластинка
- •4.3.2 Графическое вычисление результирующей амплитуды. Применение метода Френеля к простейшим дифракционным явлениям
- •4.3.3 Дифракция в параллельных лучах
- •4.3.4 Фазовые решетки
- •4.3.5 Дифракция рентгеновских лучей. Экспериментальные методы наблюдения дифракции рентгеновских лучей. Определение длины волны рентгеновских лучей
- •4.4 Основы кристаллооптики
- •4.4.1 Описание основных экспериментов. Двойное лучепреломление
- •4.4.2 Поляризация света. Закон Малюса
- •4.4.3 Оптические свойства одноосных кристаллов. Интерференция поляризованных лучей
- •4.5 Виды излучения
- •4.5.1 Основные законы теплового излучения. Абсолютно черное тело. Пирометрия
- •4.5.2 Источники света
- •4.6 Действие света
- •4.6.1 Фотоэлектрический эффект. Законы внешнего фотоэффекта
- •4.6.2 Эффект Комптона
- •4.6.3 Давление света. Опыты Лебедева
- •4.6.4 Фотохимическое действие света. Основные фотохимические законы. Основы фотографии
- •4.7 Развитие квантовых представлений об атоме
- •4.7.1 Опыты Резерфорда по рассеянию альфа-частиц. Планетарно-ядерная модель атома
- •4.7.2 Спектр атомов водорода. Постулаты Бора
- •4.7.3 Корпускулярно-волновой дуализм. Волны де Бройля
- •4.7.4 Волновая функция. Соотношение неопределенности Гейзенберга
- •4.8 Физика атомного ядра
- •4.8.1 Строение ядра. Энергия связи атомного ядра. Ядерные силы
- •4.8.2 Радиоактивность. Закон радиоактивного распада
- •4.8.3 Радиоактивные излучения
- •4.8.4 Правила смещения и радиоактивные ряды
- •4.8.5 Экспериментальные методы ядерной физики. Методы регистрации частиц
- •4.8.6 Физика элементарных частиц
- •4.8.7 Космические лучи. Мезоны и гипероны. Классификация элементарных частиц
- •Содержание
4.2.3 Интерференционные приборы, геометрические измерения
Двухлучевые интерферометры. Явление интерференции лежит в основе устройства приборов, называемых интерферометрами. С помощью интерферометров решают с высокой точностью такие технические и физические задачи, как измерение длин и углов, определение показателя преломления и его зависимости от разных внешних факторов и т. д.
Интерферометры, где используются два пространственно разделенных луча, между которыми создается определенная разность хода, называются двухлучевыми. Существует много разновидностей двухлучевых интерферометров. Рассмотрим два: интерферометры Жамена и Майкельсона. Интерферометр Майкельсона сыграл важную роль в обосновании теории относительности. Он нашел широкое применение при решении фундаментальных физических и технических задач. Интерферометр Жамена послужил прообразом многих важных оптических устройств.
Интерферометр Жамена. Основную часть интерферометра Жамена (рисунок - 4.18) составляют две однородные идентичные плоскопараллельные прозрачные пластинки ABB1A1 и FCC1F1. Коэффициент преломления и толщину каждой пластинки обозначим соответственно через n и h. Поверхности АВ и C1F1 — зеркальные. Из точечного источника S направим луч света под углом i1 к поверхности A1B1 пластинки АВВ1А1 Падающий луч частично отразится (луч 1), а частично пройдет внутрь пластинки и выйдет из нее после отражения от зеркальной поверхности АВ (луч 2). Таким образом, на поверхность второй пластинки падают два параллельных луча (1 и 2). Как показывают расчеты, разность хода между интерферирующими лучами в интерферометре Жамена зависит от толщины пластин, угла между ними и угла падения луча на пластинку. Условие возникновения максимума интенсивности имеет вид
hφ sin i = mλ |
(4.39). |
Ширина интерференционной полосы зависит от угла φ. Действительно, при переходе к соседнему максимуму, разность хода лучей меняется на λ, поэтому, обозначив соответствующее изменение угла падения через ∆i, получим hφ = cosi∆i =λ. Отсюда угловая ширина интерференционной полосы будет
∆i = λ/hφ cosi |
(4.40). |
При параллельном расположении пластин(φ = 0), разность хода ∆d = 0. В этом случае, вследствие того, что ширина интерференционной полосы больше угла, под которым ведется наблюдение интерференционной картины, все поле зрения будет окрашено в один цвет (если свет монохроматический) и равномерно освещено (если свет белый). Чтобы в этом случае наблюдать интерференционную картину, необходимо направить на поверхность A1В1 расходящийся пучок света. При таком освещении будет наблюдаться интерференция полос равного наклона.
Интерферометр Майкельсона. На рисунке - 4.19 представлена упрощенная схема интерферометра Майкельсона. Монохроматический свет от источника S падает под углом 45° на плоскопараллельную пластинку P1. Сторона пластинки, удаленная от S, посеребренная и полупрозрачная, разделяет луч на две части: луч 1 (отражается от посеребренного слоя) и луч 2 (проходит через него). Луч 1 отражается от зеркала M1 и, возвращаясь обратно, вновь проходит через пластинку P1 (луч 1'). Луч 2 идет к зеркалу М2, отражается от него, возвращается обратно и отражается от пластинки P1 (луч 2') Так как первый из лучей проходит пластинку P1 дважды, то для компенсации возникающей разности хода на пути второго луча ставится пластинка Р2 (точно такая же, как и P1, только не покрытая слоем серебра).
Рисунок - 4.18 |
Рисунок - 4.19 |
Лучи 1' и 2' когерентны; следовательно, будет наблюдаться интерференция, результат которой зависит от оптической разности хода луча l от точки О до зеркала M1 и луча 2 от точки О до зеркала М2. При перемещении одного из зеркал на расстояние λ0/4 разность хода обоих лучей увеличится на λ0/2 и произойдет смена освещенности зрительного поля. Следовательно, по незначительному смещению интерференционной картины, можно судить о малом перемещении одного из зеркал и использовать интерферометр Майкельсона для точного (порядка 10-7 м) измерения длины тел, длины световой волны, изменения длины тела при изменении температуры (интерференционный дилатометр).
Многолучевые интерферометры Интерферометр Фабри-Перо. Интерферометр Фабри — Перо состоит из двух стеклянных или кварцевых пластин (П1 и П2). Внутренние поверхности их (рисунок - 4.20) плоские, строго параллельны друг другу и частично покрыты прозрачной пленкой с высокой отражательной способностью (R ≈0,9—0,99). С целью устранения вредного влияния света, отраженного внешними поверхностями пластин, делают обычно так, чтобы последние составляли небольшой угол с внутренними поверхностями. Пластинки могут передвигаться в перпендикулярном направлении друг относительно друга.
Если расстояние между пластинками строго фиксировано, т. е. пластины неподвижны, такой интерферометр называется эталоном Фабри — Перо. Преимуществом эталона Фабри — Перо является его высокая точность, которую не удается получить в раздвижном интерферометре. Расходящийся пучок света от протяженного источника (на рисунке 4.20 показан ход одного из этих лучей) падает на интерферометр. При этом, возникает интерференционная картина, представляющая концентрические кольца - кривые равного наклона.
Существуют также сферические интерферометры, прототипом которых явился интерферометр Фабри — Перо. Сферические интерферометры состоят из двух вогнутых зеркал одинакового или разного радиуса кривизны. Зеркала располагаются так, чтобы фокусы их были совмещены. Модифицированные сферические интерферометры нашли широкое применение в качестве резонаторов газовых лазеров. Применение сферических зеркал в качестве резонаторов оправдано, тем, что в этом случае требуемая точность юстировки и обработки зеркал значительно ниже и стабильность системы выше.
Интерферометр (пластинка) Люммера—Герке. Интерферометр Люммера — Герке состоит из плоскопараллельной стеклянной или кварцевой однородной пластинки. Чтобы добиться нормального падения света и уменьшить, таким образом, потери энергии при отражении, один конец пластинки либо срезается, либо снабжается добавочной треугольной призмой (рисунок.- 4.21). Лучи света от источника направляются на срезанный конец пластинки (или на основание треугольной призмы) так, чтобы на границу раздела луч падал под углом, чуть меньшим предельного. Такое падение луча обеспечивает примерно одинаковую интенсивность 10—15 лучей, вышедших из пластинки. Это объясняется тем, что при каждом отражении от внутренней поверхности пластинки, из системы выходит очень малая часть падающей световой энергии (так как R≈I). При падении света из протяженного источника на пластинку Люммера — Герке луч, падающий под определенным углом (один из лучей изображен на рисунке 4.21), дает ряд параллельных лучей с постоянной разностью хода между соседними лучами ∆d = 2hn cos r, где h — толщина пластинки, п—коэффициент преломления пластинки относительно окружающей среды, r — угол преломления. В фокальной плоскости собирающей линзы образуются интерференционные полосы равного наклона соответствующие лучам, выходящим из нижней и верхней поверхностей пластинки. Число эффективных (участвующих в интерференции) пучков лимитируется длиной пластинки Люммера — Герке.
На пластинке Люммера — Герке наблюдаются интерференционные полосы очень высокого (десятка тысяч) порядка. Это позволяет использовать ее в сочетании с другим спектральным прибором в основном для исследования тонкой структуры спектральных линий.
Рисунок - 4.20 |
Рисунок - 4.21 |
С помощью интерференции возможно измерение малых углов, образованных двумя плоскостями. Наряду с этим, явления интерференции могут быть применены и для ряда других точных измерений. Область использования интерференции в физическом эксперименте, на производстве быстро расширяется.
Исследование качества поверхностей. Для оптических приборов требуется большая точность при изготовлении поверхностей: плоские поверхности зеркал или сферические поверхности линз не должны отступать от соответствующих идеальных геометрических поверхностей более чем на небольшие доли (1/4 и меньше) длины световой волны. Контроль такого высокого качества поверхностей достигается интерферометрическим путем.
Такое испытание производится с помощью «пробного стекла» высокого качества, одна из поверхностей которого отступает от идеальной геометрической плоскости обычно не более чем на 1/20 длины световой волны. Испытуемая поверхность прижимается к «пробному стеклу» так, что между ними образуется тонкая воздушная прослойка. При пропускании света через эту воздушную прослойку образуются интерференционные полосы равной толщины. Для их наблюдения пользуются простым приспособлением, изображенным на рисунке - 4.22, где S — источник света, СС' — полупосеребренное зеркало, L — линза, дающая параллельный пучок лучей, которым освещается испытуемая пластинка, наложенная на „пробное стекло". Если обе поверхности являются идеально плоскими, то между ними образуется тонкий воздушный слой в виде клина, и полосы равной толщины имеют вид прямых, параллельных ребру клина. Всякое отступление от плоскости ведет к искривлению интерференционных полос. На рисунке - 4.23 а и б представлен вид полос при наличии на испытуемой поверхности бугра и впадины.
Для получения резких интерференционных полос необходимо пользоваться монохроматическим светом. Для этого обычно в качестве источника света S (рисунок - 4.22) берется ртутная дуга, дающая спектр, состоящий в видимой области из небольшого числа широко расставленных спектральных линий.
Рисунок - 4.22 |
Измерение малых изменений длин. Рассмотренные полосы равной толщины используются также для измерения весьма малого измерения толщины какого-либо слоя. Если две какие-либо поверхности образуют между собою клин, то, как мы видели, в отраженном свете возникают полосы равной толщины в виде параллельных друг другу прямых. Разность хода в месте образования светлой полосы равна ∆1 = 2d1n -1/2λ = kλ.
Если поверхности отодвигаются друг от друга с сохранением угла α, который они образуют между собой, то толщина d1 в данном месте клина начинает увеличиваться и разность хода ∆1 перестает быть равной kλ. Очевидно, разность хода ∆1 будет теперь равна kλ в точке, лежащей ближе к ребру клина, в результате чего полоса сместится в сторону ребра клина. Когда толщина d достигнет такого значения в d2, что разность хода ∆ будет равна (k+1)λ, то в рассматриваемом месте снова расположится светлая полоса.
а) бугра |
б) впадины |
Рисунок - 4.23 Вид интерференционных полос равной толщины при наличии |
При этом окажется выполненным равенство:
∆2 = 2d2n – ½ λ = (k +1) λ |
(4.41). |
Из двух последних равенств следует, что при смещении интерференционной картины на одну полосу, толщина клина в данном месте изменилась на величину: d2- d1 = λ/2n
При смещении интерференционной картины на х полос, изменение толщины окажется равным:
dx+ 1- d1 = xλ/2n, |
(4.42). |
Так как длина волны λ есть величина порядка 5•10-5 см, то по смещению интерференционных полос можно измерять изменения толщины порядка 10-8 см.
Указанный метод используется, например, для точного измерения коэффициента теплового расширения твердых тел, имеющихся в виде небольших по размерам образцов. Для этого употребляется прибор, носящий название интерференционного дилатометра, изображенный на рисунке - 4.24. Прибор состоит из кольца К, изготовляемого обычно из плавленого кварца, имеющего весьма малый и хорошо измеренный коэффициент теплового расширения. На кольце лежит стеклянная пластинка с плоскими поверхностями. Внутрь кольца помещается исследуемое тело R, поверхности которого хорошо отполированы.
Рисунок - 4.24. Схема интерференционного дилатометра. |
Тело R располагается так, чтобы между его верхней поверхностью и поверхностью стеклянной пластинки образовался тонкий клинообразный слой воздуха. При освещении прибора сверху наблюдаются полосы равной толщины. При нагревании прибора, вследствие различия в коэффициентах теплового расширения тела R и кольца K, толщина воздушного слоя меняется, и интерференционные полосы смещаются. По смещению полос можно измерить изменение размеров тела и, следовательно, вычислить коэффициент его теплового расширения.