- •Введение Физика как наука. Содержание и структура физики
- •I Механика
- •1.1 Кинематика материальной точки
- •1.1.1 Понятие материальной точки. Система отсчета. Траектория, путь, перемещение Единицы измерения
- •1.1.2 Скорость и ускорение произвольно движущейся точки
- •1.1.3 Кинематика прямолинейного движения
- •1.1.4 Движение точки по окружности. Связь между линейными и угловыми кинематическими параметрами
- •1.1.5 Колебательное движение. Виды гармонических колебаний
- •1.1.6 Сложение гармонических колебаний
- •1.2 Динамика материальной точки
- •1.2.1 Законы Ньютона. Масса, сила. Закон сохранения импульса, реактивное движение
- •1.2.2 Силы в механике
- •1.2.3 Работа сил в механике, энергия. Закон сохранения энергии в механике
- •1.3 Динамика вращательного движения твердых тел
- •1.3.1 Момент силы, момент импульса. Закон сохранения момента импульса
- •1.3.2 Кинетическая энергия вращательного движения. Момент инерции
- •II Раздел молекулярная физика и термодинамика
- •2.1 Основные положения молекулярно-кинетической теории газов
- •2.1.1 Агрегатные состояния вещества и их признаки. Методы описания физических свойств вещества
- •2.1.2 Идеальный газ. Давление и температура газа. Шкала температур
- •2.1.3 Законы идеального газа
- •2.2 Распределение Максвелла и Больцмана
- •2.2.1 Скорости газовых молекул
- •2.3. Первое начало термодинамики
- •2.3.1 Работа и энергия в тепловых процессах. Первое начало термодинамики
- •2.3.2 Теплоемкость газа. Применение первого начала термодинамики к изопроцессам
- •2.4. Второе начало термодинамики
- •2.4.1. Работа тепловых машин. Цикл Карно
- •2.4.2 Второе начало термодинамики. Энтропия
- •2.5 Реальные газы
- •2.5.1 Уравнение Ван-дер-Ваальса. Изотермы реального газа
- •2.5.2 Внутренняя энергия реального газа. Эффект Джоуля—Томсона
- •III Электричество и магнетизм
- •3.1 Электростатика
- •3.1.1 Электрические заряды. Закон Кулона
- •3.1.2 Напряженность электрического поля. Поток линий вектора напряженности
- •3.1.3 Теорема Остроградского — Гаусса и его применение для расчета полей
- •3.1.4 Потенциал электростатического поля. Работа и энергия заряда в электрическом поле
- •3.2 Электрическое поле в диэлектриках
- •3.2.1 Электроемкость проводников, конденсаторы
- •3.2.2 Диэлектрики. Свободные и связанные заряды, поляризация
- •3.2.3 Вектор электростатической индукции. Сегнетоэлектрики
- •3.3 Энергия электростатического поля
- •3.3.1 Электрический ток. Законы Ома для постоянного тока
- •3.3.2 Разветвленные цепи. Правила Кирхгофа. Работа и мощность постоянного тока
- •3.4 Магнитное поле
- •3.4.1 Магнитное поле. Закон Ампера. Взаимодействие параллельных токов
- •3.4.2 Циркуляция вектора индукции магнитного поля. Закон полного тока.
- •3.4.3 Закон Био—Савара—Лапласа. Магнитное поле прямого тока
- •3.4.4 Сила Лоренца Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
- •3.4.5 Определение удельного заряда электрона. Ускорители заряженных частиц
- •3.5 Магнитные свойства вещества
- •3.5.1 Магнетики. Магнитные свойства веществ
- •3.5.2 Постоянные магниты
- •3.6 Электромагнитная индукция
- •3.6.1 Явления электромагнитной индукции. Закон Фарадея. Токи Фуко
- •3.6.2 Ток смещения. Вихревое электрическое поле Уравнения Максвелла
- •3.6.3 Энергия магнитного поля токов
- •IV Оптика и основы ядерной физики
- •4.1. Фотометрия
- •4.1.1 Основные фотометрические понятия. Единицы измерений световых величин
- •4.1.2 Функция видности. Связь между светотехническими и энергетическими величинами
- •4.1.3 Методы измерения световых величин
- •4.2 Интерференция света
- •4.2.1 Способы наблюдения интерференции света
- •4.2.2 Интерференция света в тонких пленках
- •4.2.3 Интерференционные приборы, геометрические измерения
- •4.3 Дифракция света
- •4.3.1 Принцип Гюйгенса—Френеля. Метод зон Френеля. Зонная пластинка
- •4.3.2 Графическое вычисление результирующей амплитуды. Применение метода Френеля к простейшим дифракционным явлениям
- •4.3.3 Дифракция в параллельных лучах
- •4.3.4 Фазовые решетки
- •4.3.5 Дифракция рентгеновских лучей. Экспериментальные методы наблюдения дифракции рентгеновских лучей. Определение длины волны рентгеновских лучей
- •4.4 Основы кристаллооптики
- •4.4.1 Описание основных экспериментов. Двойное лучепреломление
- •4.4.2 Поляризация света. Закон Малюса
- •4.4.3 Оптические свойства одноосных кристаллов. Интерференция поляризованных лучей
- •4.5 Виды излучения
- •4.5.1 Основные законы теплового излучения. Абсолютно черное тело. Пирометрия
- •4.5.2 Источники света
- •4.6 Действие света
- •4.6.1 Фотоэлектрический эффект. Законы внешнего фотоэффекта
- •4.6.2 Эффект Комптона
- •4.6.3 Давление света. Опыты Лебедева
- •4.6.4 Фотохимическое действие света. Основные фотохимические законы. Основы фотографии
- •4.7 Развитие квантовых представлений об атоме
- •4.7.1 Опыты Резерфорда по рассеянию альфа-частиц. Планетарно-ядерная модель атома
- •4.7.2 Спектр атомов водорода. Постулаты Бора
- •4.7.3 Корпускулярно-волновой дуализм. Волны де Бройля
- •4.7.4 Волновая функция. Соотношение неопределенности Гейзенберга
- •4.8 Физика атомного ядра
- •4.8.1 Строение ядра. Энергия связи атомного ядра. Ядерные силы
- •4.8.2 Радиоактивность. Закон радиоактивного распада
- •4.8.3 Радиоактивные излучения
- •4.8.4 Правила смещения и радиоактивные ряды
- •4.8.5 Экспериментальные методы ядерной физики. Методы регистрации частиц
- •4.8.6 Физика элементарных частиц
- •4.8.7 Космические лучи. Мезоны и гипероны. Классификация элементарных частиц
- •Содержание
4.3.4 Фазовые решетки
При дифракции от решетки основная часть световой энергии сосредоточивается в спектре нулевого порядка и по мере перехода к спектрам высших порядков энергия резко убывает. Для устранения этого недостатка возникла необходимость в изменении распределения энергии в спектрах разного порядка. Это достигается введением дополнительной разности хода в пределах каждого штриха решетки путем нанесения бороздок определенной формы (профилированные штрихи). При прохождении или отражении (рисунок 4.39) света возникает разность фаз от одного края бороздки до другого. Такие решетки, принцип действия которых основан на изменении фазы, называются фазовыми решетками.
Решетки, изображенные на рисунке 4.39, представляют собой, по существу, фазовые решетки, отдельные элементы которых отличаются не различием в отражающей или пропускающей способности, влияющей на амплитуду волны, а своей способностью изменять фазу волны. В данном случае изменение фазы происходит вследствие геометрической формы пластинки, отражающей или пропускающей волну.
Можно воздействовать на фазу волны, осуществляя различие в показателе преломления пропускающего слоя при его неизменной толщине; такого рода фазовые решетки удается создавать, вызывая в прозрачном теле ультраакустическую волну.
| |
а) — отражательная решетка |
б) — пропускающая решетка |
Рисунок - 4.39 |
Одна из разновидностей прозрачной фазовой решетки была предложена Майкельсоном в 1898 г. Эта решетка в честь ее изобретателя названа эшелоном Майкельсона. Эшелон Майкельсона состоит из ряда (до 30—40) строго плоскопараллельных стеклянных пластинок в виде лестницы с выступами одинаковой ширины (рисунок 4.40). Пластинки являются в высокой степени однородными и имеют строго одинаковую толщину (от 1 до 2см). Сжатые между собой однородные плоскопараллельные пластинки образуют лестницу как бы из сплошного однородного стекла. Свет, исходящий из точечного источника S, проходя через линзу Л, попадает на эшелон Майкельсона в виде параллельного пучка. Проходящий через эшелон световой пучок дифрагирует на краях ступеней лестницы. Дифрагированные под определенными углами лучи, интерферируя между собой, дают соответствующие максимумы или минимумы.
Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль линз, поглощающих излучение в ультрафиолетовой (а также в инфракрасной) области спектра. В заключение, укажем, что эшелоны используются только при строго монохроматическом излучении.
Рассмотрим теперь ряд рассеивающих центров, расположенных по узлам двумерной квадратной решетки. Явления при дифракции приведут к появлении своей системы гипербол (рисунок 4.41). В случае двумерной решетки и монохроматического света максимумы имеют вид отдельных светлых пятен. При освещении двумерной решетки белым светом различным длинам волн λ каждое пятно растянется в спектр.
Рисунок - 4.40 |
Рисунок - 4.41 |
Наконец, рассмотрим пространственную решетку, образованную системой рассеивающих центров, расположенных в простейшем случае по узлам кубической решетки. Такую решетку можно разбить на три системы линейных решеток, параллельных осям ОХ, ОУ и OZ. Максимумы колебаний получатся в направлениях, определяемых тремя углами α,β,γ, которые должны одновременно удовлетворять необходимым условиям дифракции, что очень трудно практически реализовать. При падении на пространственную решетку параллельного пучка когерентных монохроматических лучей возникновение максимумов возможно не для любых длин волн, а только для некоторых, вполне определенных. Поэтому для наблюдения дифракции от трехмерной решетки обычно пользуются белым светом. В белом свете присутствуют волны всевозможных длин и, следовательно, среди них всегда найдутся длины волн, которые будут удовлетворять дифракционному равенству.
Для того чтобы линейная решетка могла давать максимумы, необходимо, чтобы λ<2b. Аналогичные условия должны быть выполнены и для двумерной и пространственной решеток. С другой стороны, если постоянная решетки b много больше длины волны, то возникнут лишь максимумы весьма высоких порядков k что затруднит их наблюдение. Отсюда следует, что наблюдение дифракции от пространственной решетки практически возможно, если ее постоянная b порядка нескольких длин волн. Искусственное воспроизведение такой решетки для видимого света путем размещения каких-либо обособленных рассеиваюoих частиц чрезвычайно трудно. До некоторой степени условия, сходные с теми, которые имеют место в правильной пространственной решетке, осуществляются в тумане. Туман состоит из отдельных мелких капелек. Искусственно условия, соответствующие пространственной решетке, могут быть осуществлены для ультразвуковых волн в каком-либо теле.
Дифракция от стоячих волн используется для определения скорости ультразвуковых волн в разных веществах. Зная длину световой волны, можно по положению дифракционных максимумов найти постоянную решетки b, а следовательно, и длину волны ультразвуковых колебаний в данном веществе. Отсюда по известной частоте колебаний находят скорость их распространения.
Другим весьма важным случаем дифракции от пространственной решетки является дифракция рентгеновых лучей от кристаллов.