Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Слободенюк, Г. И. Квадрупольные масс-спектрометры

.pdf
Скачиваний:
11
Добавлен:
22.10.2023
Размер:
16.18 Mб
Скачать

 

 

 

7-1C

 

 

 

4-10-5

1-10'е

6-10 5

 

 

 

9о е

5-10~S

3 ю'5

8-10~5

 

4-10

7.1П5

— Ч

------

(10детий)

Р

оелениЮ

 

 

о.т~5

 

 

 

 

h 5,sj юL« 6 ,4-10"6

 

 

107

,3,2-1С 9р-Ю

5,8'

 

■п

~7

 

 

И

----- 1—

 

 

(1деление)

Рис. 59. Запись уровня постоянного сигнала, присутствующего в спектре масс, при разных давлениях в ра­ бочей камере КМ-4 и при значении Я, превышающем предельное значение Я0 = 0,16784 и, следовательно, ис­ ключающем появление на выходе анализатора стабильных ионов.

тат усреднения экспериментальных данных) аппрокси­ мируется зависимостью вида а = КРа, где а — величина

уровня постоянного сигнала;

К — коэффициент

пропор­

циональности; Р — суммарное

давление в датчике; а

безразмерный показатель степени. Необходимо

отме­

тить, что исследования такого рода, проводившиеся ра­ нее [50] на приборе КМ-1, дали тот же результат. Неко­ торое отличие было лишь в величине показателя сте­ пени а. Эксперименты, проведенные с приборами КМ-1 и КМ-2, показали, что на входе ВЭУ присутствует по­ стоянная составляющая тока ионов, образовавшихся в ионном источнике и, возможно, в ВЭУ датчика КМ и рассеянных в окружающем датчик вакуумном объеме. При проведении указанных экспериментов было также установлено, что с ростом давления в камере пропор­ ционально возрастает и уровень мощности шумового флуктуационного сигнала на выходе ВЭУ и УПТ в массспектрометре. Как показывает расчет, наблюдавшиеся величины уровней постоянного и флуктуационного сиг­

налов при известной

полосе пропускания УПТ

позво­

ляют заключить, что флуктуационный сигнал

вызван

дробовым эффектом,

создаваемым постоянным

током

рассеянных ионов. Закономерности эти сохранялись не­ зависимо от того, впускался ли в камеру воздух, гелий или ксенон. Предсказанная теоретически и подтверж­ денная экспериментально особенность сигнала КМ, не­ сущего информацию не только о парциальном составе анализируемой среды, но и о давлении в ней, может быть в ряде случаев использована как дополнительный к существующим способ измерения давления в рабочем объеме датчика.

Для выяснения степени влияния вытягивающего по­ тенциала первого динода ВЭУ на групповой пьедестал, разрешение и амплитуду сигнала при давлении в каме­

ре 6,5 • 10~7

мм рт. ст. были проведены записи группы

импульсов

от 51 до 58 а. е. м. при ^ = 6,76

делений,

НУск= П ,5

делений и разных потенциалах первого ди­

нода ВЭУ, лежащих в диапазоне величин от

—2 кв до

—4 кв. Усиление ВЭУ при этом изменялось в 900 раз. Разрешающая способность по уровню 50% и групповой пьедестал не зависят от величины напряжения на ВЭУ в указанных пределах величин. Полученный результат объясняется установкой на выходе анализатора сетча­ того электрода, находящегося под потенциалом корпуса

216

датчика. При отсутствии такого электрода в старых кон­ струкциях датчиков в приборе КМ-1 влияние напряже­ ния, подаваемого на ВЭУ, на интенсивность хвостов и разрешающую способность прибора было заметным, хотя и не очень большим из-за экранирующего действия корпуса анализатора.

§36. Методика градуировки КМ по газам

имолекулярным потокам

Спомощью КМ можно получать информацию о ка­ чественном и количественном составах анализируемой среды, а также о динамике исследуемых процессов, приводящих к быстрым изменениям состава среды. Сделать это, однако, можно лишь пользуясь методикой ра­ боты с КМ, учитывающей специфику КМ и присущие им особенности. К одной из таких особенностей отно­ сится зависимость коэффициента трансмиссии датчика

КМ от номера массы анализируемого компонента, а так­ же зависимость вида этой функции коэффициента транс­ миссии (т. е. степени дискриминации сигнала масс- спекхромехца-шэ—массам) от режимов работы анализатора и источника ионов.

Эта особенность делает необходимыми стабилизацию или фиксацию упомянутых режимов работы элементов датчика и проведение градуировки прибора, в резуль-' тате которой опытным путем определяются масштаб­ ные коэффициенты КМ, теоретически изучавшиеся в гл. 4. С помощью этих коэффициентов можно перевести амплитуды А{ импульсных сигналов масс-спектрометра, выраженные, например, в вольтах на входе индикатора, в единицы парциальных давлений Pi или удельных ин­ тенсивностей /г молекулярного потока компонентов анализируемой среды: Ai = Ki,iPi', A i~ K 2,iji, где Ki,i и К2,г — масштабные коэффициенты, а индекс i указывает на номер массы. Нетрудно показать, что рас­

чет искомого масштабного коэффициента

K\,i

следует

вести

по формуле

 

 

 

 

 

Кхл = AA,/(gtAP),

где g t = ht j ^

hsls.

(11.2)

Здесь

АЛг — приращение

амплитуды импульса

t-й

мас­

сы при напуске чистого газа с молекулярным весом М{ или калиброванной смеси газов с известным качествен­ ным и количественным составом, в которой имеется

217

компонент с массой М,-; АР — приращение полного дав­

ления в рабочей

камере при напуске газа,

измеренное

с помощью аттестованного эталонного

вакуумметра;

ls — масштабный

коэффициент вакуумметра по s-у ком­

поненту n-компонентной калиброванной смеси газов; hi — объемная или молярная доля компонента с массой Mi в смеси газов с учетом естественной распространен­ ности компонента (изотопа) с массой М,-. В табл. 3 при­ ведены значения рассчитанных по формуле (11.2) коэф­ фициентов gi, когда в качестве эталонного вакуумметра используется прибор ВИТ-1.

Коэффициенты g,-,

 

 

Т а б л и ц а 3

рассчитанные

по формуле

(11.2)

 

Молекулярный

 

 

Вид газа или

вес измеряе­

[4 0 ]

 

газовой смеси

мого компо­

*/

нента,

 

 

 

а . е . м .

 

 

 

Не

4

0,17

1 , 0 0 0

5,9

Ne

2 0

0,25

0,909

3,63

Аг

40

1,32

0,996

0,755

N2

28

1 , 0 0

0,992

0,992

с о

28

1 ,1 1

0,9866

0 , 8 8 8 8

0 а

32

0,95

0,9952

1,0476

с о 2

44

1,53

0,984

0,643

КГв4

84

1,98

0,569

0,288

Хб132

132

2,71

0,2693

0,0994

Воздух

28

1 , 0 0

0,7737

0,7857

Воздух

32

0,95

0,2085

0,2118

Воздух

40

1,32

0,0092

0,00934

Воздух

44

1,53

0,0003

0,0003

По найденным в азотной шкале значениям масштаб­ ных коэффициентов, например, для четырех инертных га­

зов— гелию (Л),4), аргону (/Ci,4o),

криптону (К\,м), ксе­

нону (К\,\з2) — можно построить

градуировочный гра­

фик зависимости К\,% от ЛК, которым следует руковод­ ствоваться для отыскания в случае необходимости лю­ бого промежуточного .значения Кщ (с точностью до ве­ личины /.,). Этим графиком, нормализованным относи­ тельно любого значения К\,и можно пользоваться при работе КМ по молекулярному потоку. При необходимо­ сти точного измерения с помощью КМ парциального содержания высокомолекулярных газовых компонентов (с М>200 а. е. м.) градуировку прибора следует осу-

218

ществлять по калибровочным газовым смесям с варьи­ руемым в широких пределах заранее заданным соста­ вом. Калибровочные смеси должны включать в себя предполагаемое для анализа вещество и инертные ре­ перные газы.

Экспериментальное определение масштабного коэф­ фициента КМ при работе по потоку 24 ) сопряжено с определенными трудностями, заключающимися в от­ сутствии эталонных источников молекулярных потоков, исходящих, например, из ячейки типа Кнудсена, а так­ же в отсутствии стандартных приборов, измеряющих интенсивность молекулярных потоков. Перечисленные обстоятельства мешают воспользоваться методикой рас­ чета интенсивности молекулярных потоков из испари­ теля [27] и вынуждают прибегнуть к осуществлению градуировки масс-спектрометра путем проведения сле­ дующего опыта.

В непосредственной близости от ионного источника датчика КМ устанавливают подложку, на которую на­ пыляют вещество анализируемого молекулярного пото­ ка. Во время конденсации на подложку испаряемого в вакууме вещества фиксируются все изменения интен­ сивности молекулярного потока, регистрируемого КМ. После завершения процесса конденсации подложку из­ влекают из вакуумной камеры и измеряют с помощью интерференционного микроскопа толщину сконденсиро­ ванного на подложку слоя d, А. Искомый масштабный коэффициент К.2Л, имеющий в этом случае размерность ej (к!сек), определяется по результатам сделанных из­ мерений по формуле:

 

 

^ t

 

ft

 

 

 

At (t) dt

£ A{J j

 

 

K 2,i = ——

----- -----------------,

(11-3)

 

 

 

a

a

 

где

Ai{t) — закон

изменения

амплитуды

сигнала

спектра масс на массе Мг- (без

фонового сигнала на

этой

массе) за время

напыления

tj — вре­

менные интервалы,

на протяжении которых

амплитуду

сигнала Aij можно считать постоянной величиной. За­ мена интеграла в выражении (11.3) суммой, несколько ухудшая точность определения коэффициента Кг,г, су­ щественно упрощает методику расчета. Переход от размерности в/(к/сек) к размерности см2 сек)/моле­

219

кул осуществляется умножением /f2ii на 10-16 (aiMiCos Qlpi), где аг- — безразмерный коэффициент кон­

денсации;

pi — плотность испаряемого вещества,

г/см3\

0 — угол

между

прямой, соединяющей испаритель с

подложкой, и нормалью к поверхности подложки.

(11.2)

Погрешность

определения Ki,i по формуле

при работе с эталонированным вакуумметром опреде­ ляется погрешностью вакуумметра ( ^— 10%), погрешно­ стью измерения выходного напряжения масс-спектромет­

ра [например, если

это

потенциометр ЭПП-09МЗ

или

КСП-4, то

погрешность

измерения

напряжения с

его

помощью

составит

-—(0,5-^-1) %], а

также

и

нестабиль­

ностью сигнала при

его преобразовании

усилении

(~ 10% ).

После квадратичного суммирования погреш­

ность при измерении парциального давления

компонен­

та газовой

смеси

составит 15%. Точность

определения

коэффициента Кг,*

по формуле (11.5)

почти в два

раза

хуже, поскольку кроме тех же аппаратурных погрешно­

стей имеются неточности в определении

толщины

кон­

денсированного

слоя

(погрешность

микроскопа

МИИ-4 составляет ±300А,

что при

толщине

слоя

3000 А дает ±10% ); в знании коэффициента

конденса­

ции (~20% ) и в определении интеграла или

суммы в

выражении (11.5), составляющей, например, 20%. Сум­ марная погрешность несколько больше 30%.

Для отработки методики градуировки КМ по моле­ кулярным потокам на стандартном вакуумном напыли­ тельном оборудовании (установки УВН-2У и УВН-2М2) проводились многочисленные эксперименты с молеку­ лярными потоками различных веществ, испаряемых в вакууме (медь, моноокись германия, цинк из латуни, хлористый натрий, различные керметы, гидрат бария и многие другие). Регистрация состава (молекулярного и изотопного) осуществлялась с помощью приборов КМ-1 и КМ-2. При этом определялась не только точ­ ность воспроизведения известного из справочников [40] изотопного состава анализировавшихся веществ, но и оценивалась чувствительность КМ при работе по моле­ кулярному потоку. На рис. 60, 61 и 62 для примера при­ ведены фотографии осциллограмм спектров масс меди, моноокиси германия и цинка, полученные с помощью прибора КМ-1. Там же отмечены данные о воспроизво­ димости изотопного состава этих веществ и полученной в этих экспериментах чувствительности.

220

сл

Слободенюк .

сокой (б) разрешающей способности прибора КМ-2.

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ