книги из ГПНТБ / Слободенюк, Г. И. Квадрупольные масс-спектрометры
.pdf
|
■ |
|
|
|
7-1C |
|
|
|
|
4-10-5 |
|
1-10'е |
6-10 5 |
|
|
|
|
||
9• о е |
5-10~S |
3 ю'5 |
|
8-10~5 |
|
||
4-10 |
|||
7.1П5 |
|||
— Ч |
------ |
||
(10детий) |
Р |
оелениЮ |
|
|
|
о.т~5 |
|
|
|
|
h 5,sj ю— L« 6 ,4-10"6 |
-е |
|
|
107 |
,3,2-1С 9р-Ю |
5,8' |
|||
|
■п |
~7 |
|
|
|
И |
----- 1— |
||
|
|
(1деление) |
Рис. 59. Запись уровня постоянного сигнала, присутствующего в спектре масс, при разных давлениях в ра бочей камере КМ-4 и при значении Я, превышающем предельное значение Я0 = 0,16784 и, следовательно, ис ключающем появление на выходе анализатора стабильных ионов.
тат усреднения экспериментальных данных) аппрокси мируется зависимостью вида а = КРа, где а — величина
уровня постоянного сигнала; |
К — коэффициент |
пропор |
циональности; Р — суммарное |
давление в датчике; а — |
|
безразмерный показатель степени. Необходимо |
отме |
тить, что исследования такого рода, проводившиеся ра нее [50] на приборе КМ-1, дали тот же результат. Неко торое отличие было лишь в величине показателя сте пени а. Эксперименты, проведенные с приборами КМ-1 и КМ-2, показали, что на входе ВЭУ присутствует по стоянная составляющая тока ионов, образовавшихся в ионном источнике и, возможно, в ВЭУ датчика КМ и рассеянных в окружающем датчик вакуумном объеме. При проведении указанных экспериментов было также установлено, что с ростом давления в камере пропор ционально возрастает и уровень мощности шумового флуктуационного сигнала на выходе ВЭУ и УПТ в массспектрометре. Как показывает расчет, наблюдавшиеся величины уровней постоянного и флуктуационного сиг
налов при известной |
полосе пропускания УПТ |
позво |
ляют заключить, что флуктуационный сигнал |
вызван |
|
дробовым эффектом, |
создаваемым постоянным |
током |
рассеянных ионов. Закономерности эти сохранялись не зависимо от того, впускался ли в камеру воздух, гелий или ксенон. Предсказанная теоретически и подтверж денная экспериментально особенность сигнала КМ, не сущего информацию не только о парциальном составе анализируемой среды, но и о давлении в ней, может быть в ряде случаев использована как дополнительный к существующим способ измерения давления в рабочем объеме датчика.
Для выяснения степени влияния вытягивающего по тенциала первого динода ВЭУ на групповой пьедестал, разрешение и амплитуду сигнала при давлении в каме
ре 6,5 • 10~7 |
мм рт. ст. были проведены записи группы |
|
импульсов |
от 51 до 58 а. е. м. при ^ = 6,76 |
делений, |
НУск= П ,5 |
делений и разных потенциалах первого ди |
|
нода ВЭУ, лежащих в диапазоне величин от |
—2 кв до |
—4 кв. Усиление ВЭУ при этом изменялось в 900 раз. Разрешающая способность по уровню 50% и групповой пьедестал не зависят от величины напряжения на ВЭУ в указанных пределах величин. Полученный результат объясняется установкой на выходе анализатора сетча того электрода, находящегося под потенциалом корпуса
216
датчика. При отсутствии такого электрода в старых кон струкциях датчиков в приборе КМ-1 влияние напряже ния, подаваемого на ВЭУ, на интенсивность хвостов и разрешающую способность прибора было заметным, хотя и не очень большим из-за экранирующего действия корпуса анализатора.
§36. Методика градуировки КМ по газам
имолекулярным потокам
Спомощью КМ можно получать информацию о ка чественном и количественном составах анализируемой среды, а также о динамике исследуемых процессов, приводящих к быстрым изменениям состава среды. Сделать это, однако, можно лишь пользуясь методикой ра боты с КМ, учитывающей специфику КМ и присущие им особенности. К одной из таких особенностей отно сится зависимость коэффициента трансмиссии датчика
КМ от номера массы анализируемого компонента, а так же зависимость вида этой функции коэффициента транс миссии (т. е. степени дискриминации сигнала масс- спекхромехца-шэ—массам) от режимов работы анализатора и источника ионов.
Эта особенность делает необходимыми стабилизацию или фиксацию упомянутых режимов работы элементов датчика и проведение градуировки прибора, в резуль-' тате которой опытным путем определяются масштаб ные коэффициенты КМ, теоретически изучавшиеся в гл. 4. С помощью этих коэффициентов можно перевести амплитуды А{ импульсных сигналов масс-спектрометра, выраженные, например, в вольтах на входе индикатора, в единицы парциальных давлений Pi или удельных ин тенсивностей /г молекулярного потока компонентов анализируемой среды: Ai = Ki,iPi', A i~ K 2,iji, где Ki,i и К2,г — масштабные коэффициенты, а индекс i указывает на номер массы. Нетрудно показать, что рас
чет искомого масштабного коэффициента |
K\,i |
следует |
|||
вести |
по формуле |
|
|
|
|
|
Кхл = AA,/(gtAP), |
где g t = ht j ^ |
hsls. |
(11.2) |
|
Здесь |
АЛг — приращение |
амплитуды импульса |
t-й |
мас |
сы при напуске чистого газа с молекулярным весом М{ или калиброванной смеси газов с известным качествен ным и количественным составом, в которой имеется
217
компонент с массой М,-; АР — приращение полного дав
ления в рабочей |
камере при напуске газа, |
измеренное |
с помощью аттестованного эталонного |
вакуумметра; |
|
ls — масштабный |
коэффициент вакуумметра по s-у ком |
поненту n-компонентной калиброванной смеси газов; hi — объемная или молярная доля компонента с массой Mi в смеси газов с учетом естественной распространен ности компонента (изотопа) с массой М,-. В табл. 3 при ведены значения рассчитанных по формуле (11.2) коэф фициентов gi, когда в качестве эталонного вакуумметра используется прибор ВИТ-1.
Коэффициенты g,-, |
|
|
Т а б л и ц а 3 |
|
рассчитанные |
по формуле |
(11.2) |
||
|
Молекулярный |
|
|
|
Вид газа или |
вес измеряе |
[4 0 ] |
|
|
газовой смеси |
мого компо |
*/ |
||
нента, |
|
|
||
|
а . е . м . |
|
|
|
Не |
4 |
0,17 |
1 , 0 0 0 |
5,9 |
Ne |
2 0 |
0,25 |
0,909 |
3,63 |
Аг |
40 |
1,32 |
0,996 |
0,755 |
N2 |
28 |
1 , 0 0 |
0,992 |
0,992 |
с о |
28 |
1 ,1 1 |
0,9866 |
0 , 8 8 8 8 |
0 а |
32 |
0,95 |
0,9952 |
1,0476 |
с о 2 |
44 |
1,53 |
0,984 |
0,643 |
КГв4 |
84 |
1,98 |
0,569 |
0,288 |
Хб132 |
132 |
2,71 |
0,2693 |
0,0994 |
Воздух |
28 |
1 , 0 0 |
0,7737 |
0,7857 |
Воздух |
32 |
0,95 |
0,2085 |
0,2118 |
Воздух |
40 |
1,32 |
0,0092 |
0,00934 |
Воздух |
44 |
1,53 |
0,0003 |
0,0003 |
По найденным в азотной шкале значениям масштаб ных коэффициентов, например, для четырех инертных га
зов— гелию (Л),4), аргону (/Ci,4o), |
криптону (К\,м), ксе |
нону (К\,\з2) — можно построить |
градуировочный гра |
фик зависимости К\,% от ЛК, которым следует руковод ствоваться для отыскания в случае необходимости лю бого промежуточного .значения Кщ (с точностью до ве личины /.,). Этим графиком, нормализованным относи тельно любого значения К\,и можно пользоваться при работе КМ по молекулярному потоку. При необходимо сти точного измерения с помощью КМ парциального содержания высокомолекулярных газовых компонентов (с М>200 а. е. м.) градуировку прибора следует осу-
218
ществлять по калибровочным газовым смесям с варьи руемым в широких пределах заранее заданным соста вом. Калибровочные смеси должны включать в себя предполагаемое для анализа вещество и инертные ре перные газы.
Экспериментальное определение масштабного коэф фициента КМ при работе по потоку (К24 ) сопряжено с определенными трудностями, заключающимися в от сутствии эталонных источников молекулярных потоков, исходящих, например, из ячейки типа Кнудсена, а так же в отсутствии стандартных приборов, измеряющих интенсивность молекулярных потоков. Перечисленные обстоятельства мешают воспользоваться методикой рас чета интенсивности молекулярных потоков из испари теля [27] и вынуждают прибегнуть к осуществлению градуировки масс-спектрометра путем проведения сле дующего опыта.
В непосредственной близости от ионного источника датчика КМ устанавливают подложку, на которую на пыляют вещество анализируемого молекулярного пото ка. Во время конденсации на подложку испаряемого в вакууме вещества фиксируются все изменения интен сивности молекулярного потока, регистрируемого КМ. После завершения процесса конденсации подложку из влекают из вакуумной камеры и измеряют с помощью интерференционного микроскопа толщину сконденсиро ванного на подложку слоя d, А. Искомый масштабный коэффициент К.2Л, имеющий в этом случае размерность ej (к!сек), определяется по результатам сделанных из мерений по формуле:
|
|
^ t |
|
ft |
|
|
|
f° At (t) dt |
£ A{J j |
|
|
|
K 2,i = —— |
----- -----------------, |
(11-3) |
||
|
|
|
a |
a |
|
где |
Ai{t) — закон |
изменения |
амплитуды |
сигнала |
|
спектра масс на массе Мг- (без |
фонового сигнала на |
||||
этой |
массе) за время |
напыления |
tj — вре |
||
менные интервалы, |
на протяжении которых |
амплитуду |
сигнала Aij можно считать постоянной величиной. За мена интеграла в выражении (11.3) суммой, несколько ухудшая точность определения коэффициента Кг,г, су щественно упрощает методику расчета. Переход от размерности в/(к/сек) к размерности (в • см2 • сек)/моле
219
кул осуществляется умножением /f2ii на 10-16 (aiMiCos Qlpi), где аг- — безразмерный коэффициент кон
денсации; |
pi — плотность испаряемого вещества, |
г/см3\ |
|
0 — угол |
между |
прямой, соединяющей испаритель с |
|
подложкой, и нормалью к поверхности подложки. |
(11.2) |
||
Погрешность |
определения Ki,i по формуле |
при работе с эталонированным вакуумметром опреде ляется погрешностью вакуумметра ( ^— 10%), погрешно стью измерения выходного напряжения масс-спектромет
ра [например, если |
это |
потенциометр ЭПП-09МЗ |
или |
|||||
КСП-4, то |
погрешность |
измерения |
напряжения с |
его |
||||
помощью |
составит |
-—(0,5-^-1) %], а |
также |
и |
нестабиль |
|||
ностью сигнала при |
его преобразовании |
усилении |
||||||
(~ 10% ). |
После квадратичного суммирования погреш |
|||||||
ность при измерении парциального давления |
компонен |
|||||||
та газовой |
смеси |
составит 15%. Точность |
определения |
|||||
коэффициента Кг,* |
по формуле (11.5) |
почти в два |
раза |
хуже, поскольку кроме тех же аппаратурных погрешно
стей имеются неточности в определении |
толщины |
кон |
|||
денсированного |
слоя |
(погрешность |
микроскопа |
||
МИИ-4 составляет ±300А, |
что при |
толщине |
слоя |
||
3000 А дает ±10% ); в знании коэффициента |
конденса |
||||
ции (~20% ) и в определении интеграла или |
суммы в |
выражении (11.5), составляющей, например, 20%. Сум марная погрешность несколько больше 30%.
Для отработки методики градуировки КМ по моле кулярным потокам на стандартном вакуумном напыли тельном оборудовании (установки УВН-2У и УВН-2М2) проводились многочисленные эксперименты с молеку лярными потоками различных веществ, испаряемых в вакууме (медь, моноокись германия, цинк из латуни, хлористый натрий, различные керметы, гидрат бария и многие другие). Регистрация состава (молекулярного и изотопного) осуществлялась с помощью приборов КМ-1 и КМ-2. При этом определялась не только точ ность воспроизведения известного из справочников [40] изотопного состава анализировавшихся веществ, но и оценивалась чувствительность КМ при работе по моле кулярному потоку. На рис. 60, 61 и 62 для примера при ведены фотографии осциллограмм спектров масс меди, моноокиси германия и цинка, полученные с помощью прибора КМ-1. Там же отмечены данные о воспроизво димости изотопного состава этих веществ и полученной в этих экспериментах чувствительности.
220
сл
Слободенюк .
сокой (б) разрешающей способности прибора КМ-2.