книги из ГПНТБ / Слободенюк, Г. И. Квадрупольные масс-спектрометры

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ К ДОПОЛНЕНИЮ

1.Dynamic mass-spectrometry, v. 2. London, 1972.

2.White F. A. Mass-spectrometry in science and technology. N. Y.— London, John Willey and Sons, 1969.

3.Тальрозе В. Л., Хмельницкий Р. А. В сб.: Материалы I Всесоюз­

	ной конференции по масс-спектрометрии.	Л., АН СССР,	1972,
4.	с. 5—28.
	Мамырин Б. А. В сб.: Материалы I Всесоюзной конференции по
5.	масс-спектрометрии. Л., АН СССР, 1972, с. 43—52.		v. 12,
	Sakimura Masahiko. Сицуре бинсэки. Mass-spectrom., 1970,
6.	No. 3, р. 1077—1095.
	Lever R. F. IBM Journal Res. Develop., 1966, v. 10, p. 26—39.
7.	Dawson P. H., Whetten N. P. J. Voc. Sci.	and Technol.,	1968,

v.5, p. 1— 10.

8.Dawson P. H., Whetten N. R. Int. J. Mass-spectrom. and Ion

9.

Phys., 1969, v. 3, No. 1—2, p. 1—12.

D:

Appl. Phys.,

1970, v. 3,

Chisholm T., Stark A. M. J. Phys.

10.

No. 11,

p. 1717.

J.

Vac. Sci.

and

Technol., 1971,

v.

8,

No.

1,

Denison

D. R.

p. 266—269.

11.

Dawson

P. H.

J.

Vac. Sci.

and

Technol., 1971,

v.

8,

No.

1,

p. 263—265.

12.

Dawson

P. H.

J.

Vac. Sci.

and

Technol., 1972,

v.

9,

No.

1,

р. 487—491.

13.

Шеретов Э. П. и др. «Приборы и техника эксперимента», 1971,

№ 1, с. 166—168;

1973,

№

1, с. 163—167.

14.

Шеретов Э. П. и др. В сб.: Материалы I Всесоюзной конферен­

15.

ции по

масс-спектрометрии. Л., АН СССР, 1972,

с. 288—307.

8,

Ляшко

В. К. «Приборы

и

системы

управления»,

1971,

№

с. 31—32.

16.Holme А. Е., Thatchef W. J., Leek J. Н. J. Phys. E: Sci. Instrum., 1972, v. 5, p. 429—433; Vacuum, 1972, v. 22, p. 327—330.

17. Whetten N. R., Dawson P. H. J. Vac. Sci. and Technol., 1970,

v.7, p. 440.

18.Arnold W. J. Vac. Sci. and Technol., 1970, v. 7, p. 191.

19.Ehlert T. C. J. Phys., 1970, v. E 3, p. 237—239.

20. Evans В. E., Supple. R. W. J. Vac. Sci. and Technol,, 1971, v. 8,

p.270—272.

21.Marmet P. J. Vac. Sci. and Technol., 1971, v. 8, p. 262.

22.Pichlmayer F. Vacuum-technik., 1973, Bd. 32, S. 1—6.

23.	Brinkmann V. Int. J. Mass-spectrom. and Ion Phys.,	1972,	v. 9,
	p. 161— 166.
24.	Lawson G., Todd J. E. J. Chemistry in Britain,	1972,	v. 8,

p.373—380.

25.Ball G. W. Vacuum, 1969, v. 19, p. 331.

26.Lichtmann D. J. Vac. Sci. and Technol., 1971, v. 8, p. 309.

27. Von Schmeiber H. Vacuum-technik, 1972, Bd. 21, S. 165—169.

28.Ylnon J., Klein F. S. Vacuum, 1971, v. 21, p. 379—382.

29.Souchet R. e. a. Vide, 1972, v. 27, p. 125—142.

30.	Rettinghaus G., Huber W. K- J. Vac. Sci. and Technol., 1972, v. 9,
31.	p. 416—420.			S. 110— 117.
	AEG—Telefunken. Vacuum-technik, 1971, Bd. 20,
32.	Elford M. T.,	Milley H. B. J. Vac. Sci. and Technol., 1972, v. 9,
33.	p. 1034—1039.	Kay	E. J. Appl. Phys., 1972, v. 43,	p. 794—799.
	Winter H. F.,
34.	Steckelmacher	W.	Vacuum-technik, 1971, Bd. 20,	S. 139—150.

35.Деулин E. А. и др. «Изв. вузов. Сер. Машиностроение», 1971,

№9, с. 164.

36. Le Contellee М. е. a. Vide, 1970, v.		25,	р. 141— 145.
37.	Visser J. J. Vac. Sci. and Technol.,	1973, v. 10, p. 464—471.
38.	Bunyard G. B. Solid State Technol.,	1970, v. 13, p. 78—83,		87.
39.	Bergmann R. S., Chanin L. M .	J.	Appl. Phys., 1971,	v. 42,

p.4208—4215.

40.Winter H. F„ Kay E. J. Appl. Phys., 1972, v. 43, p. 789—793.

41.Рекламный проспект фирмы «Бальцерс» о приборе типа S1MS, 1972.

42.Джейрам Р. Масс-спектрометрия. Пер. с англ. М., «Мир», 1969.

43.Vacuum, 1970, v. 20, р. 452.

О Г Л А В Л Е Н И Е

П р е д и с л о в и е ........................................................................................									3
				Ч А С Т Ь		1
ТЕОРИЯ К В А Д РУ П О Л Ь Н О ГО МАСС-СПЕКТРОМЕТРА									5
Г л ава 1. Движение ионов				в квадрупольном			анализаторе . .		5
	§	1.,	Принцип	д е й с т в и я ............................................			для	стабильных и	5
	§	2. Аналитические			выражения
			нестабильных траекторий ионов в поле квад-						13
	§		рупольного анализатора......................................................
		3., Условия фильтрации				и о н о в .......................................			23
Г лава 2.	Разрешающая способность К М ........................................................								28
	§	4.	Зависимость		относительной			разрешающей	28
	§	5.	способности КМ от отношения					X—UIV . .
			Расчет формы		линии	спектра		масс в КМ	30
	§ 6.		Зависимость абсолютной разрешающей спо­
			собности КМ от энергии ионов и электриче-						43
	§	7.	ческих параметров поля анализатора . . .
			Максимально		достижимая		разрешающая спо­		51
			собность	КМ	....................................................................
Г л ава 3.	Скорость регистрации				спектра	м а с с ......................................			55

§ 8. Определение скорости регистрации КМ . . 55

§9. Уравнения движения ионов в режиме скани­

§	10.	рования по	спектру м а с с		.............................................. скорости	регист­		57
		Зависимость	максимальной					60
§	11.	рации КМ от		параметров	анализатора . .
		Максимальная скорость регистрации при не­						64
		постоянных	во	времени го или о . . . .			.
Г л ава 4. Чувствительность			К М .......................................................................					70
§	12.	Определение	чувствительности		КМ.	Физиче­		70
		ские причины,		влияющие	ее значение .

§13. Зависимость чувствительности от скорости регистрации и разрешающей способности

масс-спектрометра. Фактор	его потенциаль­
ных в о з м о ж н о с т е й .....................................................	72

270

§

14.

Расчет

предельной

эффективности ионных

80

§

15.

источников с ионизацией электронным ударом

Коэффициент

передачи датчика

КМ . . .

93

Глава

5.

Диапазон

анализируемых

м а с с ................................................

97

§

16.

Причины, способные ограничить верхнюю гра­

97

§

17.

ницу диапазона анализируемых

масс . . .

Влияние трансмиссии датчика на Ммакс

• •

98

§

18.

Влияние электрической прочности вакуума и

100

точности изготовления анализатора на Л4макс

Глава

6.

Максимальное

рабочее

давление

и

динамический

диапазон

К М

....................................................................................

103

§

19.

Зависимость выходного сигнала КМ от дав­

103

§

20.

ления в

датчике

...................................................

К М

Динамический

диапазон

108

Глава 7.

Влияние искажений электрического поля в анализа­

торе на

характеристики

К

М .....................................................

117

§

21.

Основные причины

и виды

искажения

поля

117

§

22.

в

анализаторе

КМ . . .

непараллельность

Максимально

допустимая

119

§

23.

электродов анализатора ....................................

бочкообразность

Максимально

допустимая

122

§

24.

электродов .

анализатора

. .

Краевые

искажения поля

126

Глава

8.

Особенности работы

однопольного

масс-спектрометра

(О М )...........................................................................................................

130

Ч А С Т Ь 2

ЭЛЕМ ЕНТЫ И Н Ж Е Н ЕРН О ГО

РАСЧЕТА

ИКОНСТРУИРОВАНИЯ КМ. Э КС П ЕРИ М Е Н Т А Л ЬН Ы Е

ИССЛЕДОВАНИЯ , В Ы П О Л Н Е Н Н Ы Е С КМ.

МЕТОДИКА И ОБЛАСТИ П РИМ ЕН ЕН ИЯ							КМ
Г л а в а 9. Структурная			схема	КМ и требования к его			отдель­
ным		б л о к а м ..............................................................................					137
§	25.	Описание структурной схемы				КМ . .	. . 137
§	26. Вывод		исходных расчетных			соотношений, по­
		зволяющих		определить	параметры основных
§	27.	блоков	К	М ..........................................................	К М		140
		Требования к датчику					144
§	28.	Требования к Г В Ч ............................................					147
§	29.	Требования к В И П ............................................					155
§	30. Требования			к блоку питания ионного			источ­
		ника (БПИИ) .					157
§	31. Требования			к УГТ ирегистрирующей			части
		КМ в	ц е л о м ...................................................				158

271

Глава 10. Конструкция и параметры отечественных и зарубеж ­

ных

серийноспособных

К

М ............................................

161

§

32.

Примеры принципиального и конструктивного

решения основных блоков К М

.............................

161

180

§ 33. Параметры отечественных и зарубежных КМ

Глава 11. Экспериментальное исследование характеристик, ме­

тодика

градуировки

и области

применения КМ .

.

191

§

34.

Типичные

записи спектров

масс,

полученные

на приборах типа КМ, характеризующие их

191

основные

п а р а м е т р ы ...................................................

§

35.

Экспериментальное

исследование

спектраль­

ной

характеристики

КМ

(т. е. амплитуды

и

202

§

36.

формы

линии спектра м а с с ) ....................................

Методика градуировки КМ по газам и мо­

217

§

37.

лекулярным

п о т о к а м ...................................................

Области применения и эксплуатации отечест­

226

венных серийноспособных К М ....................................

П р и л о ж е н и е

1.

Функции

Матье целого

порядка [20]

.

236

П р и л о ж е н и е

2.

Общий вид функций Матье действитель­

237

ного дробного

порядка

[20] . . . .

П р и л о ж е н и е

3.

Методика

расчета

величин (3 и С2г

в

разложениях вида

(1.22)

и

(1.23)

.

.

239

П р и л о ж е н и е

4.

Методика

расчета

р2,

С2г и С'2г^_2

в разложениях вида (1.31)

и (1.32) .

.

240

П р и л о ж е н и е

5.

Расчет коэффициентов а'2г,

а 2г, у'2г,

у2г

рядов

(1.33) и (1 .3 4 ).....................................

А\х,

А2х,

В!х,

243

П р и л о ж е н и е

6.,

Расчет

коэффициентов

245

В2Х, А\у, В1у,

А2у,

В2у . . . .

П р и л о ж е н и е

7.

Вывод

зависимостей

фазовых коэффи­

248

циентов

р

н

ц ...................................................

П р и л о ж е н и е

8.

Расчет

частного решения

неоднородного

250

уравнения

(3 .1 1 ) ...................................................

П р и л о ж е н и е

9.

Расчет

длины

траектории

иона в анали­

252

заторе

К

М

..........................................................

П р и л о ж е н и е

10.

Решение

уравнений

(9.43)

и

(9.44) .

.

256

С п и с о к

л и т е р а т у р ы ....................................................

258

Д о п о л н е н и е .

Краткий

обзор

состояния

квадрупольной

261

масс-спектрометрии за последние

2—3 г о д а ....................................

С п и с о к л и т е р а т у р ы

к

д о п о л н е н и ю . . .

.

268