- •Л.А. Торгонский
- •Содержание
- •4 Проектирование гимс 4
- •5 Проектирование бис 105
- •4.2 Подложки и платы гимс
- •4.3 Резисторы гис
- •4.3.1 Конструкции пленочных резисторов
- •4.3.2 Функциональные параметры резисторов гис
- •4.3.3 Материалы тонкоплёночных резисторов
- •4.3.4 Материалы толстоплёночных резисторов
- •4.3.5 Технологические ограничения
- •4.3.6 Тонкоплёночные резисторы без подгонки
- •4.3.7 Проектирование резисторов в форме меандра
- •4.3.8 Резисторы с подгонкой сопротивления
- •4.3.9 Проектирование толстоплёночных резисторов
- •4.3.10 Частотные свойства плёночных резисторов
- •4.4 Плёночные конденсаторы гис
- •4.4.1 Введение
- •4.4.2 Конструкции плёночных конденсаторов гимс
- •4.4.3 Функциональные параметры конденсаторов гимс
- •4.4.4 Материалы тонкоплёночных конденсаторов
- •4.4.5 Проектирование тонкоплёночных конденсаторов
- •4.4.6 Подгоняемые плёночные конденсаторы
- •4.4.7 Материалы толстоплёночных конденсаторов
- •4.4.8 Проектирование толстоплёночных конденсаторов
- •4.5 Индуктивные элементы гис
- •4.5.1 Введение
- •4.5.2 Проектирование плёночных катушек
- •4.6 Соединения и контакты гис
- •4.7 Коммутационные платы
- •4.8 Компоненты гис
- •4.8.1 Введение
- •4.8.2 Конструкции кристаллов
- •4.8.3 Конструкции конденсаторов
- •4.8.4 Конструкции резисторов
- •4.8.5 Индуктивные компоненты гимс
- •4.9 Гибридные микросхемы свч диапазона
- •4.9.1 Введение
- •4.9.2 Элементы гимс свч
- •4.9.3 Подложки гимс свч
- •4.9.4 Микрополосковые линии передачи гимс свч
- •4.9.5 Пассивные элементы гимс свч
- •4.9.6 Активные элементы гимс свч
- •4.9.7 Конструкции гимс свч
- •5 Проектирование бис
- •5.1 Введение
- •5.2 Проблемы проектирования бис
- •5.3 Этапы проектирования бис
- •5.4 Элементная база бис. Матричные кристаллы
- •5.4.1 Введение
- •5.4.2 Библиотечный набор функциональных элементов и узлов
- •5.4.3 Конструктивные параметры модулей матричных бис
- •5.5 Автоматизация проектирования топологии имс
- •5.6 Системы автоматизации проектирования бис
- •6 Обеспечение защиты имс и мп
- •6.1 Введение
- •6.2 Корпуса микросхем
- •6.3 Бескорпусные микросхемы
- •6.4 Тепловые режимы имс
- •6.5 Внешние и внутренние паразитные связи и помехи в ис
- •6.6 Обеспечение механической устойчивости конструкций ис
- •6.7 Защита микросхем от воздействия агрессивных сред
- •6.8 Монтаж кристаллов и плат
- •6.9 Электрический монтаж кристаллов и плат
- •7 Конструкторская документация ис
- •7.1 Понятия и определения
- •7.2 Состав и содержание текстовых документов
- •7.3 Схемная докумнтация
- •7.4 Масштабные графические документы микросхем
- •8 Заключение
- •Список литературы
4.3.3 Материалы тонкоплёночных резисторов
Как отмечалось ранее, в зависимости от толщины плёнок микросхемы резисторы классифицируются как тонко- и толстоплёночные. Различны и материалы, применяемые для исполнения тонко- и толстоплёночных резисторов. В части агрегатного состояния материалы тонкоплёночных резисторов являются твёрдыми телами, которые в процессе формирования плёнок подвергаются термическому плавлению с последующим испарением в газообразное состояние и осаждением на подготовленные твёрдые основания (подложки и платы). В процессах катодного, анодного, высокочастотного распыления удаётся исключить высокотемпературные процессы испарения и транспортировать для осаждения на платах атомарные и молекулярные частицы твёрдого вещества.
В качестве резистивных материалов тонкопленочных резисторов используют чистые металлы и сплавы с высоким электрическим сопротивлением, а также специальные резистивные материалы — керметы, которые состоят из частиц металла и диэлектрика (например, Сг и SiO). Широко распространены пленки хрома и тантала. Сплавы имеют большее значение R□ по сравнению с пленками чистых металлов. На основе керметов получают высокоомные резисторы. Наиболее распространен кермет, в состав которого входят хром и моноокись кремния 50...90 % Сг, 50...10 % SiO. В зависимости от содержания хрома можно получить резистивные пленки с R□ = 100...10 000 Ом, обладающие высокой стабильностью. В табл. 4.3 приведены параметры ряда резистивных металлосилицидных составов, применяемых для изготовления резистивных плёнок.
Таблица 4.3 — Параметры резистивных металлосилицидных сплавов
Марка сплава |
R□, Ом |
ТКС, (t) 10–4, К–1 |
Ро, Вт/см2 |
c, 10–5, 1/час |
РС-5006 РС-5402 РС-5406К РС-5406Н РС-3710 РС-4800 РС-1714 РС-4206 РС-4400 РС-1004 РС-2310 РС-2005
|
3–20 5–100 10–500 50–500 50–3000 100–1000 300–500 103 (1–5)103 (3–50)103 (1–8)103 (8–50)103
|
0,5 0,5 0,5 0,3 1 2 2 0,5 3 15 12 12 |
5 2 2 2 5 5 5 2 10 5 5 5 |
2 1 1 1 0,5 1 1 0,5 1 2 2 2 |
В связи с тем, что свойства керметных пленок в сильной степени зависят от технологических факторов, резисторы имеют худшую воспроизводимость номиналов и больший ТКС по сравнению с металлическими. В настоящее время промышленностью освоена большая группа металлосилицидных сплавов системы Сг-Si, легированных небольшими добавками железа, никеля, кобальта, вольфрама (РС-3001, РС-3710, РС-5604К, МЛТ-ЗМ, РС-5406Н). При сравнительно малом ТКС и высокой воспроизводимости удельных поверхностных сопротивлений диапазон номиналов сплавов РС достаточно широк: R□ = 0,05...50 кОм.
Наиболее часто используют сплавы РС-3001, РС-3710 (37,9 % Сг, 9,4 % N1, 52,7 % Si), МЛТ-ЗМ (43,6 % Si, 17,6 % Сг, 14,1 % Fе, 24,7 % W). Параметры ряда распространённых тонкоплёночных резистивных материалов, в дополнение к приведенным в табл. 4.3, представлены в табл. 4.4.
Таблица 4.4 — Параметры материалов тонких резистивных плёнок
|
|
|
|
|
|
Материал плёнки |
Материал контактных площадок |
R□, Ом |
Диапазон, Ом
|
Ро, Вт/см2 |
ТКС, 10–4 К–1 |
Нихром, проволока, Х20Н80, 0,3–0,8 мм (ГОСТ 12766-67) |
Медь лужёная |
300 |
2 |
2 |
1 |
Нихром, проволока, (ГОСТ 8803-58) |
Золото — подслой хрома |
10 |
(100 –104) |
2 |
–2,3 |
50 |
5∙(100 – 104 | ||||
Сплав МЛТ-3М (бКО.028.005 ТУ) |
Медь лужёная — подслой ванадия Медь (защита никель) — подслой нихрома |
500 |
5∙(100 –104) |
2 |
2 |
Хром (ГОСТ 5905-67) |
Медь лужёная |
500 |
50–3∙103 |
1 |
0,6 |
Кермет К-50С (ЕТО.021.013.ТУ) |
Золото — подслой хрома (нихрома) |
3∙103 5∙103 103 |
103–104 |
2 |
3 –4 –5 |
Тантал ТВЧ, лента, толщина 0,3–3 мм (РЭТУ 1244 -67) |
Алюминий — слой ванадия |
20–100 |
102–104 |
3 |
–2
|
Медь лужёная — подслой нихрома |
100 |
5∙102–105 |
3 |
–2 | |
Тантал |
10 |
101–1,5∙104 |
3 |
–2 | |
Сплав РС 3001 (ЕТО.021.019.ТУ) |
Золото — подслой хрома (нихрома) |
103 2∙103
|
102 – 5∙104 2∙102–105 |
3 |
–0,2 |
Контактные пары «резистивная плёнка — проводящая плёнка» характеризуются удельным переходным сопротивлением (Ro Ом∙мм2), значение которого зависит от выбираемых материалов пары и технологии формирования контакта. Значение Ro находится в широком диапазоне от (0,3–6) мОм/мм2 для пары Сr-Al до (20–300) мОм/мм2 для пары Au-Ta. В расчётных методиках принимаеся усреднённое значение Ro = (0,05–0,25) Ом/мм2.