- •Тема 1. Элементы квантовой механики
- •Корпускулярно-волновые свойства света.
- •1.2 Соотношения неопределенностей Гейзенберга.
- •1.3.Волновое уравнение частицы.
- •1.4. Движение частиц через потенциальный барьер. Туннельный эффект.
- •1.5 Линейный гармонический осциллятор.
- •1.6 Электрон в атоме водорода
- •Тема 2. Кристаллические решётки
- •2.1 Структура и виды кристаллических решёток, их характеристики.
- •2.2 Дефекты реальных кристаллических материалов их влияние на свойства твердых тел.
- •Тема 3. Элементы зонной теории твердых тел
- •3.1.Обобществление электронов в кристалле. Зонный характер энергетического спектра электронов в кристалле.
- •Ядра соседних атомов, притягивая электрон, ослабляют его связь
- •В результате взаимодействия одни уровни смещаются вверх,
- •3.2. Зоны Бриллюэна. Число уровней в разрешённых зонах. Заполнение зон электронами и электрические свойства твердых тел
- •3.3. Зонные диаграммы металлов, полупроводников и диэлектриков.
- •3.3. Статистика электронов и дырок в полупроводниках
- •Тема 4. Статистика носителей зарядов в полупроводниках и металлах
- •4.1.Основные понятия статистической физики.
- •4.2 Микрочастицы и макроскопические системы . Термодинамическое и статистическое описание идеального электронного газа.
- •4.3. Концентрация электронов и дырок в собственном полупроводнике
- •4.4. Концентрация электронов и дырок в примесном полупроводнике
- •Определение положения уровня Ферми
- •4.5.Неравновесные носители
- •Тема 5. Электропроводность твердых тел
- •5.1 Тепловое движение и его средняя скорость.
- •5.3 Дрейфовый ток
- •5.4.Диффузионный ток
- •Эффект Холла
- •5.6.Эффект Ганна.
- •Тема 6.Поверхностные явления в полупроводниках
- •Тема 7. Контактные явления и электрические переходы
- •7.1 Работа выхода электронов из металла и полупроводника.
- •7.2 Контакт металл-металл. Контактная разность потенциалов.
- •7.3.Термоэлектрические явления
- •7.4.Контакт металл-полупроводник: выпрямляющий (барьер Шотки) и невыпрямляющий (омический) контакты
- •7.6. Прямое включение p-n-перехода.
- •7.7. Обратное включение p-n-перехода.
- •7.8 Инжекция неосновных носителей
- •7.9. Вольт-амперная характеристика идеального р - n перехода
- •7.10 Отличие вольт-амперной характеристики р-n перехода от теоретической
- •7.11.Туннельный эффект в электронно-дырочном переходе.
- •Тема 8. Физические основы оптоэлектроники и квантовой электроники 4 часа
- •8.1.Основные понятия фотометрии. Основные энергетические и фотометрические величины.
- •8.2.Фотопроводимость полупроводников.
- •8.3.Фотоэлектрические эффекты в p-n-переходе. Влияние светового потока на вах p-n-перехода.
- •8.4. Основные виды генерации оптического излучения в полупроводниках:
- •8.6. Внешняя квантовая эффективность
- •8.7.Энергетические спектры атомов, молекул и твердых тел.
- •8.8.Спектральные свойства активной среды. Ширина спектральной линии, причины ее уширения.
- •8.10.Методы создания инверсии населенностей.
- •Тема 9. Физические основы вакуумной и плазменной электроники
- •9.2 Типы эмиссии:
- •9.3 Термоэлектронные катоды
- •9.7.Токопрохождение в вакууме. Конвекционный, наведенный и полный ток.
- •9.8 Электрический разряд в газах. Возбуждение и ионизация атомов газа.
- •1.2. Задачи
- •Пример решения
- •2. Статистика носителей зарядов в полупроводниках и металлах 4 часа
- •2.1. Краткие теоретические сведения
- •2.2 Задачи для решения
- •3.1. Краткие теоретические сведения
- •3.2. Задачи
- •3.3. Примеры решения задач
- •4. Поглощение и излучение света 4 часа
- •4.2 Задачи
- •4.3 Примеры решения задач
7.6. Прямое включение p-n-перехода.
Если к переходу подключить внешний источник с напряжением , как показано на рис. 7.6, а, таким образом, что вектор напряженности образованного им электрического поля будет направлен встречно вектору напряженности внутреннего поля , то в результате уменьшится разность потенциалов между областями (рис. 7.6, б):
, (7.8)
напряженность суммарного электрического поля в p-n-переходе также уменьшится:
, (7.9)
соответственно снизится высота потенциального барьера до величины и сузится область p-n-перехода. Причем зависимость ширины перехода от напряжения на нем описывается выражением
. (7.8)
Большое число основных носителей оказывается способным преодолеть снизившийся потенциальный барьер p-n-перехода, и через него начинает протекать значительный ток, который будет расти при увеличении приложенного напряжения, поскольку будет расти число носителей, способных преодолеть пониженный потенциальный барьер. Диффузионная составляющая тока через p-n-переход будет значительно выше дрейфовой составляющей . Ток, протекающий через переход, называют прямым током , а напряжение рассмотренной полярности называется прямым напряжением и считается положительным. При прямом включении p-n-перехода происходит инжекция носителей заряда – диффузионный перенос основных носителей в область, где они становятся неосновными.
Большинство полупроводниковых диодов выполняют на основе несимметричных p-n-переходов, в которых концентрация легирующей примеси в одной из областей перехода много выше, чем в другой области. В таком переходе более легированную область называют эмиттер, а менее легированную – база. Инжекцию в таких переходах можно считать односторонней, поскольку преобладает инжекция носителей из эмиттера в базу.
7.7. Обратное включение p-n-перехода.
Если к переходу подключить внешний источник с напряжением , как показано на рис. 7.7, а, таким образом, что вектор напряженности образованного им электрического поля будет сонаправлен с вектором напряженности внутреннего поля , то в результате увеличится разность потенциалов между областями (рис. 7.7, б):
, (7.9)
напряженность суммарного электрического поля в p-n-переходе также увеличится
, (7.10)
соответственно повысится высота потенциального барьера до величины и расширится область p-n-перехода. Зависимость ширины перехода от обратного напряжения на нем описывается выражением
. (7.11)
В таких условиях основные носители оказываются неспособными преодолеть повысившийся потенциальный барьер p-n-перехода, и через него протекает незначительный по величине ток неосновных носителей, для которых суммарное поле перехода является ускоряющим, т.е. .
Таким образом, обратный ток перехода в отличие от прямого является дрейфовым, его величина практически не зависит от напряжения, поскольку не меняется число носителей, создающих его. Напряжение рассмотренной полярности называется обратным напряжением и считается
отрицательным. При обратном включении p-n-перехода происходит экстракция носителей заряда – дрейфовый перенос неосновных носителей в область, где они становятся основными.
Поэтому через р-n переход будет протекать результирующий ток, называемый обратным током, и который оказывается меньше нуля
Iобр= Iдиф - Iпров Iпров = Is <0.
Обратный ток получается небольшим (в тысячи и более раз меньше прямого тока), т.к. концентрация неосновных носителей мала и кроме того, сопротивление р-n перехода при обратном включении очень велико.
Процесс выведения носителей заряда из области полупроводника, где они являются неосновными, через р-n переход электрическим полем, созданным действием внешнего напряжения, называется экстракцией.
Таким образом, р-n переход обладает односторонней проводимостью – он хорошо проводит ток при прямом и плохо – при обратном включении.
Следует также отметить, что ширина р-n перехода зависит от концентрации примесей (удельного сопротивления) в областях р и n, величины и полярности приложенного напряжения. Ширину р-n перехода, к которому приложено внешнее напряжение, можно определить по следующей формуле
, (7.12)
где - относительная диэлектрическая проницаемость кристалла;
о - электрическая постоянная ;
NД, NА – концентрация донорных и акцепторных примесей;
U – внешнее напряжение, которое подставляется в формулу со знаком минус, если оно обратное.
Соотношение (7.12) показывает, что с увеличением концентрации примесей в р и n областях (с уменьшением удельного сопротивления) ширина (толщина) р-n перехода уменьшается. При обратном включении и при увеличении обратного напряжения ширина перехода увеличивается, а при прямом включении – уменьшается.