- •Министерство образования Республики Беларусь
- •Предисловие
- •1.Структура рынка средств производства при планово распределительной экономике и в переходный период. Формы реализации средств производства
- •1.1. Структура рынка средств производства
- •1.2. Социально-экономическое развитие Республики Беларусь в переходный период (1990-2000гг.)
- •1.3. Развитие реального сектора экономики
- •2. Технологический прогресс – основа развития общественного производства
- •2.1. Этапы технологического развития общества
- •2.2. Особенности технологического развития общества в современных условиях.
- •2.3. Основные направления научно-технологического развития на современном этапе
- •2.4. Перспективы научно-технологического развития
- •3. Классификация технологических процессов, технологичность изделий
- •3.1. Классификация технологических процессов
- •3.2. Технологичность изделий
- •4. Организация обеспечения промышленных предприятий качественным сырьем и комплектующими
- •4.3. Организация снабжения цехов материалами
- •5.1. Формирование системы качества в Республике Беларусь
- •5.2. Качество – всемирное поле конкуренции
- •5.3. Международная система управления качеством
- •6. Автоматизация производства
- •6.1 Пути автоматизации
- •6.2 Оборудование для автоматизации производств
- •6.3 Промышленные роботы
- •6.4 Автоматизированные линии и производства
- •8.Нормирование производственных запасов. Управление запасами на предприятиях
- •8.1. Виды запасов
- •8.2. Методика нормирования производственных запасов
- •8.3. Оптимизация запасов
- •8.4. Сверхнормативные и несанкционированные запасы
- •9. Организационные структуры менеджмента в промышленности
- •9.1. Сущность и общая характеристика организационных структур
- •9.2 Выбор структуры управления.
- •10. Технологические системы как экономические объекты
- •10.1 Структура технологической системы
- •10.2 Классификация технологических систем
- •11. Стандартизация товарной продукции
- •11.1. Понятие стандартизации
- •11.2. Указатели стандартов
- •11.3.Обозначение стандартов
- •12. Технология конструкционных материалов
- •12.1. Кристаллическое строение металлов Все металлы – тела кристаллические. Кристаллы хаотично ориентированы и называются зернами.
- •Дефекты подразделяются на:
- •12.3 Химико-термическая обработка стали.
- •12.4 Цветные металлы
- •12.4.1 Титан.
- •12.4.2Алюминий и его сплавы.
- •13. Технология получения и применение изделий из композиционных материалов 13.1 Свойства композиционных материалов
- •13.2. Область применения полимерных композиционных материалов.
- •13.3. Характеристики компонентов, входящих в состав полимерных км
- •13.4. Технология изготовления изделий из композиционных материалов.
- •14. Механическая обработка. Технико-экономические параметры технологических процессов механической обработки.
- •14.1 Сущность процесса механической обработки.
- •14.2. Технико-экономический анализ технологического процесса механической обработки
- •1. Штучная себестоимость изготовления одной детали.
- •2. Себестоимость заданной партии деталей.
- •15. Технологические процессы получения заготовок методами литья
- •15.1 Сущность процессов литья.
- •15.2. Технологические процессы получения отливок в разовые песчано-глинистые формы
- •15.3. Литье в многоразовые формы.
- •15.4 Литье по выплавляемым моделям
- •16. Технология пластической переработки металлов
- •16.1 Механизм пластической деформации металлов
- •16.2 Прокатка
- •16.3. Штамповка
- •16.4. Ковка
- •16.5. Волочение
- •17. Элионные, электрофизические и электрохимические методы обработки материалов
- •17.2 Плазменная обработка.
- •17.3 Электроэррозионные методы обработки.
- •17.4 Электрохимические методы обработки.
- •17.5 Анодно-механическая обработка.
- •17.6 Химические методы размерной обработки деталей.
- •18. Технология получения изделий методами порошковой металлургии
- •19. Основы мембранных технологий
- •19.2. Основные разновидности мембранных процессов и их характеристика
- •20. Технология сварки и резки металлов
- •20.1. Электродуговая сварка и резка металлов
- •20.2. Газовая сварка и резка металлов
- •20.3. Холодная сварка
- •20.4. Ультразвуковая сварка давлением
- •20.5. Электронно-лучевая сварка
- •20.6. Плазменно-дуговая сварка
- •20.7. Диффузная сварка
- •21. Неорганическое стекло
- •21.1 Свойства и получение
- •21.2. Основные виды стеклянных изделий
- •22. Технология получения каучука и резины
- •22.1 Свойства и получение
- •22.2. Технология каучука и резины
- •22.3. Резины общего назначения
- •23. Основы технологических процессов электроники и микроэлектроники
- •23.1. Технология изготовления интегральных микросхем
- •23.2. Полупроводниковые интегральные схемы
- •23.3. Фотолитография в микроэлектронике
- •23.4. Нанесение тонких пленок в вакууме
- •23.5. Технология изготовления печатных плат (пп)
- •24. Технология применения лазера в промышленности
- •24.1 Физические основы работы лазера
- •24.2. Принцип работы лазера
- •24.3. Когерентный свет
- •24.5 Лазерная сварка
- •Голографическая интерферометрия – метод неразрушающего контроля
- •25.Технология переработки топлив
- •25.1 Основные виды и методы переработки топлив
- •25.2. Методы переработки нефти
- •26. Технология сборочного производства
- •26.1 Типы сборочного производства
- •26.2 Виды сборочных соединений
- •27. Техника безопасности в производстве
- •27.1.Теоретические остовы безопасности жизнедеятельности
- •27.2. Понятие риска и безопасности жизнедеятельности
- •27.3. Формирование опасностей в производственной среде. Технические методы и средства защиты человека на производстве1
- •27.4. Взрывоопасность
- •27.5. Пожароопасность
- •27.6. Электроопасность
- •27.7. Опасности автоматизированных процессов
- •27.8.Организации и управление охраной труда на предприятии
- •27.9 Обеспечение безопасности технологических процессов
- •Оглавление
23. Основы технологических процессов электроники и микроэлектроники
23.1. Технология изготовления интегральных микросхем
Интегральной схемой (ИС) называется электронное устройство, которое имеет высокую плотность компоновки элементов электрической схемы и где все или часть элементов сформированы или соединены между собой на одном полупроводниковом кристалле или диэлектрической подложке и обладают миниатюрными размерами (несколько мкм).
Вопросы производства и технологии ИС рассматриваются в разделе микроэлектроники, изучающем технологические, физические, и конструктивные особенности электро- и радиоэлементов с размерами не более 1 мкм хотя бы по одной координате.
Наиболее важной проблемой при создании микросхем является разработка элементов и совместимых друг с другом материалов со стабильными и воспроизводимыми характеристиками тонких слоев, а также последовательности технологических операций формирования многослойной структуры, при которой последующие операции не оказывают вредного влияния на характеристики ранее сформированных слоев.
В зависимости от способа создания пленочных композиций микросхемы делятся на 2 класса: гибридные интегральные схемы (ГИС) и полупроводниковые интегральные схемы (ПИС).
ГИС – миниатюрное электронное устройство, элементы которого нераздельно связаны конструктивно, технологически и электрически на поверхности диэлектрической подложки. В технологии ГИС пассивные элементы (резисторы, проводники, контактные площадки, конденсаторы, диэлектрические и изоляционные слои) изготавливаются в одном технологическом цикле в виде металлических и диэлектрических пленок на поверхности подложки.
Активные компоненты (диоды, транзисторы) монтируются на поверхности подложки и соединяются с другими элементами. ГИС могут быть изготовлены по тонкопленочной и толстопленочной технологии.
Тонкопленочная технология – это последовательное нанесение на общее основание тонких (менее 1-2мкм) пленочных проводников, контактов. Резисторов, изоляторов с формированием микрогеометрии элементов и их соединений при осаждении с помощью специальных трафаретов, а также с помощью локального травления.
Толстопленочная технология – это последовательное нанесение через сетчатые трафареты и вжигание в керамические подложки паст проводящего и диэлектрического назначения.
Проводящие пасты состоят из металлических порошков (серебро, золото, платина) и стекла (связующее) и обеспечивают изготовление проводящих дорожек.
Пасты для изоляционных слоев состоят из стекла и органических жидкостей.
Проводящая паста наносится и вжигается при температуре 750-95оС. Резистивная и диэлектрическая пасты вжигаются при более низких температурах.
23.2. Полупроводниковые интегральные схемы
Полупроводниковые интегральные схемы получаются путем целенаправленного изменения свойств материала полупроводниковой подложки, легированной примесью. В качестве подложки может быть использован полупроводниковый кристалл. Добавление примесей, например, из германия и кремния, осуществляется в строго определенных местах подложки и в строго определенных количествах. Это позволит широко варьировать характеристики полупроводникового кристалла от изолятора до проводника. Изменение свойств происходит в слое, равном нескольким мкм и называемом p-n переходом. Этот слой характеризуется дырочной и электронной проводимостью. Рассмотрим эти процессы.
При низких температурах в кристаллах полупроводника все электроны связаны с атомами (свободных электронов нет) и кристалл представляет собой изолятор.
При повышении температуры отдельные электроны отрываются от атомов и могут создать в кристалле электрический ток при приложении напряжения. При удалении электрона из атома в оболочке образуется дырка. Свободные электроны и дырки беспорядочно перемещаются по кристаллу. При включении полупроводника в цепь, электроны перемещаются и при встрече дырки рекомбинируют, занимая вакансию. Такая проводимость называется собственной.
Если в кристалл ввести небольшое количество алюминия, то проводимость легированного кристалла будет дырочного типа, т.е. р-типа.
При введении мышьяка получаем полупроводник с электронной проводимостью n-типа. Если в кристалле имеются 2 зоны р-типа и n-типа, то граница называется р-n переходом и выполняет функцию диода. Создавая различные комбинации р-n переходов, можно получать элементы диоды, транзисторы, резисторы и т.д.
Полупроводниковые ИС получают по эпитаксиально-планарной технологии:
окисляется поверхность полупроводника кристалла;
травлением вскрывают окна на поверхности;
легируют полупроводник в зоне окон из газовой фазы;
закрывают окна окислением;
вскрывают окна и легируют поверхность в других местах;
напыляют мостики из проводников.
На поверхности кристалла 100100 мм можно сформировать несколько тысяч ИС.
Толсто- и тонкопленочные технологии применяются для мелкосерийного производства, т.к. требуют низких затрат на подготовку производства.
Технология полупроводниковых ИС применяется в массовом и крупносерийном производстве.