Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Полная версия 1.doc
Скачиваний:
96
Добавлен:
09.11.2019
Размер:
29.44 Mб
Скачать

3.1.3.4. Методы измерения и оценки качества поверхности

Оценка шероховатости поверхности в. цеховых условиях часто осуществляется визуально — осмотром обработанной поверхности и сравнением ее с аттестованным эталоном. Эталоны должны быть изготовлены из тех материалов, что и проверяемые детали, так как отражательная способность материалов различна.

Визуальная оценка поверхности невооруженным глазом возможна в пределах шероховатости, соответствующей Rz = 320 —10 мкм. Применение микроскопа сравнения (модель МС-49) расширяет возможности этого метода контроля. Оптическая схема этого микроскопа построена так, что луч света от лампы проходит через призму в двух направлениях: один пучок света направляется на поверхность эталона и, отразившись от нее, проходит через призму и объектив и дает изображение поверхности эталона в одной половине поля зрения окуляра; другой пучок света направляется на поверхность контролируемой детали и, отразившись от нее, также проходит через призму и объектив и дает изображение поверхности детали в другой половине поля зрения окуляра. Сопоставляя качество контролируемой поверхности с эталоном, можно определить шероховатость обработанной поверхности. Микроскоп сравнения типа МС-49 дает увеличение в 10—50 раз и позволяет контролировать поверхности до шероховатости, соответствующей == 0,04 — 0,16 мкм, не снимая детали со станка.

Оценка шероховатости поверхности методом сравнения субъективна и может вызвать разногласия.

Для непосредственных измерений высоты микронеровностей пользуются приборами: оптическими (двойной микроскоп, микроинтерферометр), щуповыми (профилометры, профилографы), пневматическими. Область применения некоторых измерительных средств приведена в табл.3.4.

Таблица 3.4

Средства измерения шероховатости поверхности

Приборы

Шероховатость поверхности

Rz, мкм

Rа, мкм

Rz, мкм

160-80

80 - 40

40 - 20

20 - 10

2,5 – 0,16

0,16-0,02

0,1-0,025

Щуповые

Профилометр В. М. Киселева

Профилограф Б. М. Левина

Профилограф «Калибр»

Оптические

Двойной микроскоп МИС-11

Микроинтерферометр

Сравнительные

Микроскоп МС-49

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

Для определения остаточных напряжении пользуются методом академика М. М. Давиденкова, основанным на расчете остаточных напряжений по деформации образца после удаления с него напряженного слоя. В последнее время используется бесконтактный метод определения остаточных напряжений посредством голографической интерферометрии.